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光回波损耗测试仪

AV6332光回波损耗测试仪

时间:2017-02-26 新闻来源:本站原创 阅读:  次

AV6332光回波损耗测试仪 

品牌:CETC(中电科41所)

AV6332光回波损耗测试仪.jpg


产品综述

AV6332光回波损耗测试仪可同时测量插入损耗和回波损耗。操作简单,一机多用。适用于单模光纤光缆、光器件的插入损耗和回波损耗的测量。

校准参数可以存储,用户不需要每天校准,简化了测量过程。测量重复性好,接头易于清洁。广泛应用于光纤通信科研、教学和生产领域。

主要特点

l  测量速度快

l  动态范围大:070dB

l  回损、插损同时测量

l  测试接口易拆卸和清洁

 

测量速度快

该产品为用户提供了校准参数存储功能,当测试系统未发生改变时,再次开机,仪器直接调用上次关机前保存的校准参数,无须再次进行校准设置,简化了测试步骤。

另外,该产品为提高易用性,软件上做了特别设计,使得仅须简单切换按键,即可同时测量出回损和插损,大大提高了测量速度。

动态范围大:070dB

该产品内部光路采用了超低反射的光器件,电路上采用了同相检测技术,使得仪器回波损耗测量范围很大,可达70dB,可以满足PCUPCAPC端面的回损测试。

回损、插损同时测量

该产品面板上有功率回损按键,测试过程中,只须操作按键,简单切换,即可同时测量出被测件的回损和插损。

测试接口易拆卸和清洁

该产品的功率端口支持多种连接方式,可配备FC型接头、万能接头或LC型接头,根据被测件接口(如FCSCSTLC等)类型的不同,用户可自行拆卸更换。功率端口结构设计巧妙,拆卸简单,清洁方便。

该产品的回损端口和光源输入端口一体化设计,无需拆机即可整体拆卸,使内部光纤端头的清洁非常方便。

 

 

典型应用

如下图所示,使用AV6332光回波损耗测试仪同时测量FC/UPC型跳线的回波损耗和插入损耗。

     AV6332光回波损耗测试仪进行参考反射存储、零点反射存储及插损参考点设置后,接入被测跳线,在回损测量状态下,将被测器件的后端实施光纤终止,此时测量值即为被测器件的回波损耗,释放光纤,将被测器件接入功率端口,切换到功率测量方式,此时测量值即为被测器件的插入损耗。

 

技术规格书:

AV6332光回波损耗测试仪技术规格书.jpg


选购及配置指南

AV6332光回波损耗测试仪选购与配置指南.jpg


选件及附件说明:

AV6332光回波损耗测试仪选件与附件.jpg